NI国家仪器近日推出NI PXIe-4135电源量测单元(SMU)提供10fA的量测灵敏度与高达200V的电压输出。

透过NI PXI SMU的灵活弹性、高通道数密度、绝佳的测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC的特性测试等多种应用。

工程师可透过模组化NI PXI SMU打造体积精巧、平行的多通道数系统，并享有多达68个SMU通道的单一PXI机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。

此外，使用者可善用高速通讯汇流排、精确的硬体序列与数位控制回路技术，藉此提高测试输出率并客制微调任何待测装置的SMU响应。使用者也可以运用软体控制SMU响应，不仅可缩短SMU趋稳作业漫长的等待时间，还能藉由软体的弹性减少过冲与震荡，即使是高电容负载也一样。

NI PXI SMU 使用互动式软体人机介面执行基本量测并为自动化应用除错，其操作的简易程度是箱型 SMU 无法达成的。此驱动程式提供辅助档案、文件与立即可用的范例程式，藉以协助测试程式码的开发，另外还提供程式设计介面，可搭配 C、Microsoft .NET 与LabVIEW系统设计软体等多种开发环境。

工程师也可使用NI PXI SMU搭配NI TestStand测试管理软体，藉此简化测试系统在实验室与生产线上的建置与布署。